半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 |
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| 标准编号：SJ 3249.1-1989 |
标准状态：已废止 |
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| 标准价格：14.0 元 |
客户评分：  |
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| 英文名称： |
Methods of measurement for resistivity of semi-insulation Gallium arsenide and Indium phosphide single crystal material |
| 标准状态： |
已废止 |
 中标分类： |
综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理 |
| 发布日期： |
1989-03-20 |
| 实施日期： |
1989-03-25
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| 作废日期： |
2010-01-20
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| 页数： |
8页 |
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