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化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法

国家标准
标准编号:GB/T 8759-1988 标准状态:已作废
标准价格:15.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
英文名称:  Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  GB/T 1555-1997代替
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
什么是采标情况? 采标情况:  ASTM T26-1984 MOD
实施日期:  1989-07-01
作废日期:  1998-08-01
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