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| 英文名称: |
Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference |
替代情况: |
替代GB/T 8758-1988 |
中标分类: |
冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法 |
ICS分类: |
冶金>>金属材料试验>>77.040.30金属材料化学分析 |
| 发布部门: |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期: |
2006-07-18 |
| 实施日期: |
2006-11-01
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| 首发日期: |
1988-02-25 |
| 复审日期: |
2023-12-28 |
| 提出单位: |
中国有色金属工业协会 |
归口单位: |
中国有色金属工业协会 |
| 主管部门: |
中国有色金属工业协会 |
| 起草单位: |
北京有色金属研究总院 |
| 起草人: |
王彤涵 |
| 计划单号: |
20021942-T-610 |
| 页数: |
平装16开/页数:7/字数:8千字 |
| 出版社: |
中国标准出版社 |
| 书号: |
155066·1-28139 |
| 出版日期: |
2006-11-01 |
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