光栅式测微仪检定规程 |
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| 标准编号：JJG 989-2004 |
标准状态：已作废 |
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| 标准价格：24.0 元 |
客户评分：  |
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本规程适用于分辨力为0.01μm~1μm，测量范围至100mm的光栅式测微仪的首次检定、后续检定和使用中检验。 |
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| 英文名称： |
Verification Regulation of Grating Micrometers |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被JJF 1682-2017代替 |
| 中标分类： |
综合>>计量>>A52长度计量 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象>>17.040长度和角度测量 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： |
2004-09-21 |
| 实施日期： |
2004-12-21
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| 作废日期： |
2018-05-20
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| 归口单位： |
全国几何量工程参量计量技术委员会 |
| 起草单位： |
中国科学院光电技术研究所 |
| 起草人： |
耿丽红、匡龙、曹学东、范天泉 |
| 页数： |
22页 |
| 出版社： |
中国计量出版社 |
| 书号： |
155026-1825 |
| 出版日期： |
2005-01-01 |
| 标准前页： |
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