光纤试验方法规范 第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 衰减 |
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| 标准编号：GB/T 15972.40-2008 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：43.0 元 |
客户评分：  |
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本部分为ＧＢ／Ｔ１５９７２的第４０部分。本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８《光纤总规范 第４部分：传输特性和光学特性试验方法》第４章。本标准规定了光纤的衰减特性试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。本部分适用于对Ａ 类多模光纤和Ｂ类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。本部分与ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８第４章相比主要变化如下：
———原正文中对每一种试验方法的详细描述分别用附录的形式给出（见附录Ａ、附录Ｂ、附录Ｃ 和附录Ｄ）；
———截断法Ａ１类多模光纤的注入条件中增加了“表Ａ．１ 芯轴直径实例”（见Ａ．１．３．１．２）；
———截断法中增加了Ａ２类、Ａ３ 类和Ａ４ 类突变型折射率分布多模光纤的注入装置和注入条件（见Ａ．１．４）；
———截断法中增加了波长应校准至±１０ｎｍ 内的要求（见Ａ．１．５）；
———相关内容的叙述做了一些修改。 |
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| 英文名称： |
Specifications for optical fibre test methods - Part 40: Measurement methods and test procedures for transmission and optical characteristics - Attenuation |
 替代情况： |
被GB/T 15972.40-2024代替;部分代替GB/T 15972.4-1998 |
| 中标分类： |
通信、广播>>通信设备>>M33光通信设备 |
| ICS分类： |
电信、音频和视频技术>>光纤通信>>33.180.10光纤和光缆 |
| 采标情况： |
MOD IEC 60793-1-40:2001 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2008-04-10 |
| 实施日期： |
2008-11-01
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| 作废日期： |
2025-03-01
即将作废 距离作废日期还有67天
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| 首发日期： |
1995-12-22 |
| 提出单位： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： |
信息产业部（通信） |
| 主管部门： |
信息产业部（通信） |
| 起草单位： |
武汉邮电科学研究院 |
| 起草人： |
陈永诗、程淑玲、刘泽恒、吴金良 |
| 计划单号： |
20030237-T-339 |
| 页数： |
24页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2008-10-01 |
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GB/T15972《光纤试验方法规范》由若干部分组成,其预期结构及对应的国际标准和将代替的国家标准为:
---第10部分~第19部分:测量方法和试验程序总则(对应IEC60793-1-10至IEC60793-1-19;代替GB/T15972.1-1998);
---第20部分~第29部分:尺寸参数的测量方法和试验程序(对应IEC60793-1-20至IEC60793-1-29;代替GB/T15972.2-1998);
---第30部分~第39部分:机械性能的测量方法和试验程序(对应IEC60793-1-30至IEC60793-1-39;代替GB/T15972.3-1998);
---第40部分~第49部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序(对应IEC60793-1-40至IEC60793-1-49;代替GB/T15972.4-1998);
---第50部分~第59部分:环境性能的测量方法和试验程序(对应IEC60793-1-50至IEC60793-1-59;代替GB/T15972.5-1998)。
其中GB/T15972.4×由以下部分组成:
---第40部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---衰减;
---第41部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---带宽;
---第42部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---波长色散;
---第43部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---数值孔径;
---第44部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---截止波长;
---第45部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---模场直径;
---第46部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---透光率变化;
---第47部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---宏弯损耗;
---第48部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---偏振模色散;
---第49部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---微分模时延。
本部分为GB/T15972的第40部分。本部分修改采用国际电工技术委员会标准IEC60793-1-40:2001《光纤 第1-40部分:测量方法和试验程序---衰减》。本部分与IEC60793?1?40:2001主要差异如下:
---按照我国标准的编排格式和表述要求,对一些内容安排做了调整,第1 章某些内容放在第4章,删除了第4章、第5章和第11章,将其内容分别放在第4章和第9章,其他章号重编;
---纠正了附录A 中表A.1里滤模器芯轴直径单位的错误,将μm 改为mm;
---A.2.3.2几何光注入中增加了ITU-T G.651采用26μm 光斑直径和0.11 的数值孔径的规定。
本部分代替GB/T15972.4-1998《光纤总规范 第4部分:传输特性和光学特性试验方法》第4章。
本部分与GB/T15972.4-1998第4章相比主要变化如下:
---原正文中对每一种试验方法的详细描述分别用附录的形式给出(见附录A、附录B、附录C 和附录D);
---截断法A1类多模光纤的注入条件中增加了表A.1 芯轴直径实例(见A.1.3.1.2);
---截断法中增加了A2类、A3 类和A4 类突变型折射率分布多模光纤的注入装置和注入条件(见A.1.4);
---截断法中增加了波长应校准至±10nm 内的要求(见A.1.5);
---相关内容的叙述做了一些修改。
本部分的附录A、附录B、附录C 和附录D 为规范性附录。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。
本部分由中国通信标准化协会归口。
本部分起草单位:武汉邮电科学研究院。
本部分主要起草人:陈永诗、程淑玲、刘泽恒、吴金良。
本部分为第一次修订,它与GB/T15972.4×其他部分一起代替GB/T15972.4-1998。 |
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前言Ⅰ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义1
4 衰减特性的试验方法2
5 装置3
6 试样和试样制备3
7 程序3
8 计算3
9 结果3
附录A(规范性附录) 方法A---用截断法测量衰减的特定要求5
附录B(规范性附录) 方法B---用插入损耗法测量衰减的特定要求10
附录C(规范性附录) 方法C---用后向散射法测量衰减的特定要求12
附录D(规范性附录) 方法D---谱衰减模型测量衰减的特定要求17 |
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下列文件中的条款通过GB/T15972的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T15972.22-2008 光纤试验方法规范 第22部分:尺寸参数的测量方法和试验程序---长度(IEC60793-1-22:2001,Opticalfibres-Part1?22:Measurement methodsandtestprocedures-LengthmeasurementMOD)
GB/T15972.43-2008 光纤试验方法规范 第43部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---数值孔径(IEC60793-1-43:2001,Opticalfibres-Part1?43:Measurementmethodsandtestproce?dures-Numerricalaperture,MOD)
ITU-T G.651:1998 50/125μm 多模渐变型折射率光纤光缆特性 |
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