硅（锂）X射线探测器系统 |
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| 标准编号：GB/T 13179-2008 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：43.0 元 |
客户评分：  |
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本标准参照了IEC 60759:1983《半导体Ｘ 射线能谱仪标准测试程序》。
本标准代替GB/T 13179-1991《硅（锂）Ｘ 射线探测器系统》。
本标准规定了硅（锂）X射线探测器系统的产品分类、技术要求、试验方法和检测规则等。
本标准适用于带有液氮贮存容器的室内用硅（锂）X射线探测器系统，但不适用于扫描电镜的、便携式或非液氮冷却硅（锂）X射线探测器系统。 |
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| 英文名称： |
Si（Li）X-ray detector system |
 替代情况： |
替代GB/T 13179-1991 |
| 中标分类： |
能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F88核探测器 |
| ICS分类： |
能源和热传导工程>>27.120核能工程 |
| 采标情况： |
IEC 60759-1983,NEQ |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2008-07-02 |
| 实施日期： |
2009-04-01
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| 首发日期： |
1991-04-11 |
| 提出单位： |
中国核工业集团公司 |
| 归口单位： |
全国核仪器仪表标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
全国核仪器仪表标准化技术委员会 |
| 起草单位： |
中核（北京）核仪器厂 |
| 起草人： |
殷国利 |
| 计划单号： |
20061774-T-307 |
| 页数： |
24页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2009-04-01 |
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本标准参照了IEC60759:1983《半导体X 射线能谱仪标准测试程序》。
本标准代替GB/T13179-1991《硅(锂)X 射线探测器系统》。
本标准与GB/T13179-1991相比主要差异如下:
---增加了硅(锂)X 射线探测器系统和峰谷比等19个术语以及犆c等12个符号(见本标准第3章);
---产品的特征代号增加了两位表示灵敏体直径(见本标准的4.1);
---在表1硅(锂)X 射线探测器系统产品规格表中,增加了一栏灵敏直径的条目(见本标准的4.2);
---表1中的能量分辨率每档均降低5eV(见本标准的4.2);
---充实了试验方法的内容(见本标准第6章)。
本标准附录A 为资料性附录。
本标准由中国核工业集团公司提出。
本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。
本标准起草单位:中核(北京)核仪器厂。
本标准主要起草人:殷国利。
本标准所替代标准的历次版本发布情况为:GB/T13179-1991 。 |
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前言Ⅰ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义以及符号1
4 产品分类3
5 技术要求5
6 试验方法6
7 检验规则15
8 标识、包装、运输、贮存16
附录A(资料性附录) 从X 能量分辨率计算电噪声近似值的方法18
参考文献19
图1 端帽尺寸图4
图2 总体外型结构图5
图3 被测特性的基本测量系统7
图4 典型的噪声测量脉冲幅度谱8
图5 用示波器和均方根电压表测噪声的测量系统9
图6 线性的测量和表示13
图7 温度效应的测量系统(以能谱仪为例) 14
表1 硅(锂)X 射线探测器系统产品规格表4
表2 (真空)冷室及端帽分类5
表3 不同灵敏面积探测器的峰谷比要求6
表4 参考条件和标准试验条件6
表5 测量常用放射源10
表6 检验项目分类及要求16
表7 抽样方案表16 |
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下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T4960.6 核科学技术术语 核仪器仪表
GB/T10257-2001 核仪器和核辐射探测器质量检验规则 |
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