半导体管特性图示仪校准规范 |
|
标准编号:JJF 1236-2010 |
标准状态:现行 |
|
标准价格:27.0 元 |
客户评分: |
|
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到! |
|
|
|
|
|
本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪的校准。 |
|
|
|
英文名称: |
Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers |
发布部门: |
国家质量监督检验检疫总局 |
发布日期: |
2010-01-05 |
实施日期: |
2010-04-05
|
归口单位: |
全国无线电计量技术委员会 |
主管部门: |
全国无线电计量技术委员会 |
起草单位: |
中国电子技术标准化研究所、北京无线电仪器厂、上海新建电子仪器有限公司 |
起草人: |
陈连启、于利红、刘冲等 |
页数: |
28页 |
出版社: |
中国质检出版社 |
书号: |
155026·J-2482 |
出版日期: |
2010-04-05 |
|
|
|
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 术语 (1)
4 概述 (1)
5 计量特性 (2)
5.1 校准信号 (2)
5.2 Y轴部分 (2)
5.3 X轴部分 (2)
5.4 阶梯部分 (2)
5.5 集电极功耗限制电阻 (2)
6 校准条件 (3)
6.1 环境条件 (3)
6.2 校准用标准器及其他设备 (3)
7 校准项目及校准方法 (3)
7.1 校准项目 (3)
7.2 校准方法 (4)
8 校准结果的表述 (15)
9 复校时间间隔 (15)
附录A 校准证书的内容 (16)
附录B 测量不确定度评定的实例 (19) |
|
|
GB/T13973—1992 半导体管特性图示仪通用技术要求
GB/T13974—1992 半导体管特性图示仪测试方法
使用本规范时应注意使用上述引用文献的现行有效版本。 |
|
|
|
|