本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T5201—1994《带电粒子半导体探测器测试方法》,本标准与GB/T5201—1994(以下简称原标准)相比,主要技术变化如下:
———增加了前言;
———增加了第2章“规范性引用文件”,其他章的编号依次后推;
———将原标准“术语、符号”改为第3章“术语和定义”,并完全引用GB/T4960.6—2008,不再另行编写;
———删除了原标准2.2“符号”部分,在文中用到符号的地方予以说明;
———增加了4.1“测试的参考条件或标准试验条件”代替原标准3.1;
———将原标准3.3和3.4合并为4.3;删除了原标准3.7;
———5.1“电压-电流特性(V-I特性)”增加了反向V-I特性测试;
———将原标准4.3“噪声测量”前的悬置段改为5.3.1“测量方法和测量系统”,其他节编号依次后推;
———将原标准4.3.6“探测器噪声随放大器时间常数的变化”增加新内容后,改为5.3.7;
———5.4.2“电荷收集时间”增加了对“快”、“慢”探测器的区分标准;
———第7章“环境试验”完全引用GB/T10263—2006,不再另行编写。
本标准使用重新起草法参考IEC60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 试验程序》编制,与IEC60333:1993的一致性程度为非等效。
本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC30)提出并归口。
本标准起草单位:中核(北京)核仪器厂。
本标准起草人:李志勇、王军。 |
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