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GB/T2423.1 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(GB/T2423.1—2008,IEC60068-2-1:2007,IDT)
GB/T2423.2 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温(GB/T2423.2—2008,IEC60068-2-2:2007,IDT)
GB/T2423.3 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验(GB/T2423.3—2006,IEC60068-2-78:2001,IDT)
GB/T2423.5 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Ea 和导则:冲击(GB/T2423.5—1995,idtIEC60068-2-27:1987)
GB/T2423.6 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Eb 和导则:碰撞(GB/T2423.6—1995,idtIEC60068-2-29:1987)
GB/T2423.8 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落(GB/T2423.8—1995,idtIEC60068-2-32:1990)
GB/T2423.10 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
(GB/T2423.10—2008,IEC60068-2-6:1995,IDT)
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(GB/T2828.1—2003,ISO2859-1:1999,IDT)
GB/T2829 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检查)
GB4208 外壳防护等级(IP代码)(GB4208—2008,IEC60529:2001,IDT)
GB4793.1 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1部分:通用要求(GB4793.1—2007,IEC61010-1:2001,IDT)
GB/T5080.7 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案(GB/T5080.7—1986,idtIEC60605-7:1978)
GB/T9813 微型计算机通用规范
GB/T16511 电气和电子测量设备随机文件(GB/T16511—1996,idtIEC61187:1993)
GB/T16842 外壳对人和设备的防护 检验用试具(GB/T16842—2008,IEC61032:1997,IDT) |
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