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可靠性试验 第2部分:试验周期设计

国家标准
标准编号:GB/T 5080.2-2012 标准状态:现行
标准价格:43.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本部分适用于GB/T5080.1—2012中8.1和8.2所述的不修理产品或修理产品可靠性试验工作与环境条件试验周期的设计。
推荐的试验条件见GB/T7288—1987《设备可靠性试验 推荐的试验条件》。当“推荐的试验条件”不适用时,本部分给出了试验周期设计的一般程序,它为需要精确模拟实际使用条件的特定产品可靠性试验的试验周期设计规定了详细的步骤和方法。
按本部分设计的试验,一般不能代替通常的功能特性试验、环境试验和鉴定试验。
某些情况下,在应用以本部分所述方法设计的试验周期进行试验之前有必要进行预先暴露试验,而判定是否要进行预先暴露试验的根据并不在本部分描述。
英文名称:  Reliability testing - Part 2: Design of test cycles
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 5080.2-1986
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L05可靠性和可维护性
什么是ICS分类?  ICS分类:  试验>>19.020试验条件和规程综合
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 605-2:1994
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2012-11-05
实施日期:  2013-02-15
首发日期:  1986-11-19
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国电工电子可靠性与维修性标准化技术委员会
主管部门:  工业和信息化部(电子)
起草单位:  工业和信息化部电子第五研究所
起草人:  时钟、阳川、汪凯蔚、房祥忠
页数:  24页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2013-02-15
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前言
GB/T5080《可靠性试验》分为六个部分:
———第1部分:试验条件和统计检验原理;
———第2部分:试验周期设计;
———第4部分:指数分布情况下的点估计、置信区间、预测区间和容许区间统计方法;
———第5部分:成功率的验证试验方案;
———第6部分:恒定失效率假设的有效性检验;
———第7部分:恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案。
注:上面所列之所以缺少第3部分,是因为对应于IEC的相应部分是国标GB/T7288。
本部分为GB/T5080的第2部分。
本部分根据GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T5080.2—1986《设备可靠性试验 试验周期设计导则》。本次修订没有技术内
容上的改动。
本部分使用翻译法等同采用IEC605-2:1994《设备可靠性试验 第2部分:试验周期设计导则》。
本部分做了编辑性修改,编辑性差异主要体现在:
———将标准的标题《设备可靠性试验 试验周期设计导则》修改为《可靠性试验 第2部分:试验周期设计》;
———通篇“设备”改为“产品”;
———增加了“规范性引用文件”的内容。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC24)归口。
本部分起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、北京大学。
本部分主要起草人:时钟、阳川、汪凯蔚、房祥忠。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T5080.2—1986。
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
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GB/T5080.1—1986 设备可靠性试验 总要求(idtIEC605-1:1978)
本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2012年第28号 [2012-11-14]

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