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| 英文名称： |
Testing method of magnetic lightly-striking mode atomic force microscope for nanotopography of living cells |
 中标分类： |
综合>>计量>>A60光学计量 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2012-11-05 |
| 实施日期： |
2013-02-15
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| 首发日期： |
2012-11-05 |
| 归口单位： |
全国纳米技术标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
中国科学院 |
| 起草单位： |
国家纳米科学中心、中国科学院电工研究所、中国人民解放军第二军医大学 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2013-02-15 |
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