JC/T 2149-2012 高纯碳化硅粉体成分分析方法 -工标网

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标准简介

本标准规定了高纯碳化硅粉体中二氧化硅、游离硅、游离碳、铝、砷、钙、铬、铜、铁、钾、镁、锰、钠、镍、铅、钛、锌等的测定方法。
本标准适用于碳化硅含量范围为99.9 %～99.99 %的碳化硅粉体。


英文名称：	Method for constitution analysis of high purity silicon carbide
中标分类：	建材>>陶瓷、玻璃>>Q32特种陶瓷
ICS分类：	玻璃和陶瓷工业>>陶瓷>>81.060.10原料
发布部门：	中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：	2012-12-28
实施日期：	2013-06-01
出版社：	建材工业出版社
出版日期：	2013-06-01

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