微束分析 硅酸盐玻璃的定量分析 波谱法及能谱法 |
|
标准编号:GB/T 15244-2013 |
标准状态:现行 |
|
标准价格:29.0 元 |
客户评分: |
|
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务! |
|
|
|
|
|
本标准规定了电子探针仪(EPMA)和扫描电子显微镜(SEM)的X 射线波谱仪(WDS)和能谱仪(EDS)对硅酸盐玻璃的定量分析方法。
本标准适用于硅酸盐玻璃试样(包括碱金属的硅酸盐玻璃)的波谱法(WDX)和能谱法(EDX)的定量分析。 |
|
|
|
英文名称: |
Microbeam analysis—Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry |
替代情况: |
替代GB/T 15244-2002 |
中标分类: |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
ICS分类: |
化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
发布部门: |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2013-07-19 |
实施日期: |
2014-03-01
|
提出单位: |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38) |
归口单位: |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
主管部门: |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
起草单位: |
中国科学院上海硅酸盐研究所 |
起草人: |
李香庭、曾毅、吴伟 |
页数: |
12页 |
出版社: |
中国标准出版社 |
出版日期: |
2014-03-01 |
|
|
|
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T15244—2002《玻璃的电子探针定量分析方法》
本标准与GB/T15244—2002相比主要内容变化如下:
———增加了标准样品的选择原则(见5.1和5.2);
———删除5.3中(K-44)和(K-45);
———增加了试样制备后的要求(见6.1);
———修改了试样和标准样品蒸镀导电膜的具体要求(见6.3);
———修改了仪器定量分析前开机时间的要求(见7.1.1);
———增加了“分析区域较大时,也可以用电子探针的同轴光学显微镜确定分析部位”(见7.14);
———加速电压选择中增加了过压比的要求,修改了不同原子序数的加速电压选择方法(见7.2.1);
———增加了硅漂移能谱仪(SDD)的束流选择方法(见7.2.2);
———增加了用电子束扫描的方法分析不稳定玻璃(见7.2.3);
———修改了X射线线系的原子序数选择范围(见7.2.4);
———增加了SDD能谱仪的测量条件(见7.3.3);
———增加了X射线强度在测量时间内变化量小于1%的要求(见7.3.5);
———增加了轻元素的差值法测量(见8.2);
———增加了无标样EDS定量分析方法(见8.4)。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:李香庭、曾毅、吴伟。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T15244—2002。 |
|
|
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T4930—2008 电子探针分析标准样品技术条件导则
GB/T17359—2012 微束分析 能谱法定量分析
GB/T17366 矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法
GB/T28634—2012 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析 |
|
|
|
|