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静电复印光导体表面缺陷测量方法

国家标准
标准编号:JB/T 8268-2015 标准状态:现行
标准价格:12.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。
本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。
英文名称:  Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process
什么是替代情况? 替代情况:  替代JB/T 8268-1999
什么是中标分类? 中标分类:  仪器、仪表>>电影、照相、缩微、复印设备>>N47缩微复印机械
什么是ICS分类?  ICS分类:  成像技术>>印制技术>>37.100.10印刷、复制设备
发布部门:  中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:  2015-04-30
实施日期:  2015-10-01
提出单位:  中国机械工业联合会
什么是归口单位? 归口单位:  全国复印机械标准化技术委员会(SAC/TC 147)
主管部门:  全国复印机械标准化技术委员会(SAC/TC 147)
起草单位:  天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备(常熟)有限公司等
起草人:  刘慧玲、张希平、王强、刘生应、鲁丽平、陈挺、仇相如、麦洪琦、陈颂昌、鲁俊和
批文号:  49779-2015
出版社:  机械工业出版社
出版日期:  2015-10-01
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前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替JB/T 8268-1999《静电复印感光体表面缺陷测量方法》,与JB/T 8268-1999相比主要技术变化如下:
——修改了标准名称,感光体改为光导体;
——将适用范围中的感光体改为光导体,删除了硒鼓、硫化镉鼓等已不再使用的感光体,删除了反光镜可参照使用(见第1章,1999年版的第1章);
——修改了规范性引用文件(见第2章,1999年版的第2章);
——修改了测量环境条件(见3.1,1999年版的3.1);
——将有效测量范围放入了测量方法中,删除了测量范围示意图(见4.1.2,1999年版的3.2和图1);
——增加了测试用样机的要求(见3.2);
——修改了测量方法的编排格式(见第4章,1999年版的第4章);
——修改了目视检查的方法(见4.1,1999年版的4.1),删除了目视检查鼓表面示意图(见1999年版的图2);
——把缺陷版检查改为对比测量,并修改了检查方法(见4.2,1999年版的4.2);
——修改了背景印迹的测量方法(见4.3,1999年版的4.3);
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国复印机械标准化技术委员会(SAC/TC 147)归口。
本标准起草单位:天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备(常熟)有限公司、理光图像技术(上海)有限公司深圳分公司、湖北鼎龙化学股份有限公司、柯尼卡美能达(中国)投资有限公司、上海富士施乐有限公司、兄弟(中国)商业有限公司、东芝泰格信息系统(深圳)有限公司、佳能(中国)有限公司。
本标准主要起草人:刘慧玲、张希平、王强、刘生应、鲁丽平、陈挺、仇相如、麦洪琦、陈颂昌、鲁俊和。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
——JB/T 8268-1995(GB 10996-1989)、JB/T 8268-1999。
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
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本标准相关公告
·中华人民共和国行业标准备案公告 2015年(第6号) [2015-07-25]
·中华人民共和国工业和信息化部公告 2015年(第28号) [2015-05-15]

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