硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 |
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标准编号:YB/T 4590-2017 |
标准状态:现行 |
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标准价格:30.0 元 |
客户评分: |
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本标准规定了电感耦合等离子体发射光谱法测定多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的方法。
本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定。 |
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发布部门: |
中华人民共和国工业和信息化部 |
发布日期: |
2017-04-12 |
实施日期: |
2017-10-01
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出版社: |
冶金工业出版社 |
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