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| 英文名称： |
General reliability test requirements and test methods for power semiconductor devices in electric vehicle applications |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
31.080.01;19.020 |
| 发布部门： |
中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟 |
| 发布日期： |
2017-12-20 |
| 实施日期： |
2017-12-31
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| 提出单位： |
中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟 |
| 归口单位： |
中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟 |
| 起草单位： |
中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、中国科学院电工研究所、北汽电动汽车股份有限公司、大洋电机新动力科技有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、泰科天润半导体科技（北京）有限公司等 |
| 起草人： |
张瑾、仇志杰、葛亮、孔亮、陈彤、刘志宏、张舟云、张琴、王志超、杨寿国、陆敏、彭同华、刘振洲 |
| 页数： |
20页【彩图】 |
| 出版社： |
中国质检出版社 |
| 出版日期： |
2018-02-01 |