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| 英文名称： |
Design margin and abuse tests for electronic measuring instrument |
 替代情况： |
替代GB/T 13166-1991 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子测量与仪器>>L85电子测量与仪器综合 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象>>17.220电学、磁学、电和磁的测量 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2018-06-07 |
| 实施日期： |
2019-01-01
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| 归口单位： |
全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC 153) |
| 主管部门： |
全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC 153) |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州市质量技术监督综合检验检测中心、中国电子科技集团公司第41研究所 |
| 起草人： |
黄英华、宋敏、曹玲、江岩 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2018-06-01 |