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电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

国家标准
标准编号:GB/T 36655-2018 标准状态:现行
标准价格:29.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量,其它无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析,0.5%-5%定量分析。
英文名称:  Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
什么是ICS分类?  ICS分类:  31.030
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2018-09-17
实施日期:  2019-01-01
提出单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
主管部门:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
起草单位:  国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司
起草人:  封丽娟、李冰、陈进、夏永生、曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪
页数:  12页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2018-09-01
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本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2018年第11号 [2018-09-27]
本标准相关资讯
·454项国家标准即将实施 涉及这些仪器分析方法 [2018-09-30]

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