晶体硅太阳电池热斑耐久性能试验方法 |
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| 标准编号：DB32/T 3594-2019 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：16.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了晶体硅太阳电池热斑耐久性能的试验原理、仪器设备、试验步骤和试验结果等。本标准适用于单晶硅、多晶硅太阳电池，也可用于经过封装，但电池的电路单独引出的样品。 |
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