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微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

国家标准
标准编号:GB/T 38532-2020 标准状态:现行
标准价格:41.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。
注1: 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比,EBSD具有很多技术优势,如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2: 该方法还可用于一些复杂材料(如双相材料)的晶粒尺寸测量。
注3: 对变形程度较大的试样进行分析时,需谨慎处理结果。
英文名称:  Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
什么是中标分类? 中标分类:  化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
什么是采标情况? 采标情况:  ISO 13067:2011
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2020-03-06
实施日期:  2021-02-01
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位:  中国宝武钢铁集团中央研究院、上海发电设备成套设计研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所
起草人:  姚雷、张作贵、曾毅、郑芳
页数:  28页【彩图】
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2020-03-01
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