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| 英文名称： |
Transient thermal test method for light emitting diode modules |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>计算机>>L63计算机外围设备 |
| ICS分类： |
电子学>>31.120电子显示器件 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2020-04-28 |
| 实施日期： |
2020-11-01
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 起草单位： |
中国科学院半导体研究所、中国电子技术标准化研究院 |
| 起草人： |
赵丽霞、马占红、符佳佳、孙雪娇、李晋闽、刘秀娟、赵英 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2020-04-01 |
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