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锗单晶位错密度的测试方法

国家标准
标准编号:GB/T 5252-2020 标准状态:现行
标准价格:29.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了锗单晶位错密度的测试方法。
本标准适用于、和面锗单晶位错密度的测试,测试范围为0 cm-2~100 000 cm-2。
英文名称:  Test method for dislocation density of monocrystal germanium
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 5252-2006
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  冶金>>77.040金属材料试验
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2020-06-02
实施日期:  2021-04-01
提出单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位:  有研光电新材料有限责任公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导稀材股份有限公司、中锗科技有限公司、义乌力迈新材料有限公司
起草人:  张路、冯德伸、马会超、普世坤、姚康、刘新军、郭荣贵、向清华、韦圣林、黄洪伟文
页数:  12页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2020-06-01
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本标准相关公告
·中华人民共和国国家标准批准发布公告2020年第14号 [2020-06-11]

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