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| 英文名称： |
Test method for parameters of thermoelectric terahertz detector |
| 标准状态： |
即将实施 |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L50光电子器件组合 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2023-12-28 |
| 实施日期： |
2024-07-01
即将实施 距离实施日期还有62天 |
| 提出单位： |
中国科学院 |
| 归口单位： |
全国光电测量标准化技术委员会(SAC/TC 487) |
| 起草单位： |
中电科思仪科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第四十一研究所、中国科学院空天信息创新研究院、南京大学、中国计量科学研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、桂林电子科技大学、中国计量大学 |
| 起草人： |
张鹏、刘志明、姜万顺、卢永红、涂学凑、高涵、王璞、尹炳琪、孙青、康琳、吴斌、刘红元、于新升、姜玥、贾小氢、邓玉强、李俊霖、韩家广、占春连 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |