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| 英文名称： |
Test method and procedure for identification of physical characteristics of fake and counterfeit microelectronics devices |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>信息处理技术>>L74程序语言 |
| ICS分类： |
试验>>19.020试验条件和规程综合 |
| 发布部门： |
中国电子学会 |
| 发布日期： |
2022-12-31 |
| 实施日期： |
2023-01-31
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| 提出单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 归口单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子第五研究所、中国空间技术研究院、天津大学、武汉大学、广东工业大学、深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 起草人： |
周帅、马凌志、邱宝军、罗宏伟、王小强、王斌、罗捷、罗军、林晓玲、武慧薇、崔华楠、马凯学、吴裕功、蔡念、常胜、温长清 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |