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| 英文名称： |
Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis |
 中标分类： |
综合>>基础学科>>A42物理学与力学 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.20表面特征 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2024-05-28 |
| 实施日期： |
2024-12-01
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| 提出单位： |
中国科学院 |
| 归口单位： |
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279) |
| 起草单位： |
苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司 |
| 起草人： |
郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢荻、王震 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |