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微束分析 分析电子显微术 核壳颗粒壳壁厚度的测量方法

国家标准
标准编号:GB/T 47182-2026 标准状态:即将实施
标准价格:65.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)获取纳米级核壳材料水平投影图形并测量其壳层厚度(10 nm~100 nm)的方法。
本文件适用于TEM/STEM记录的微纳颗粒数字像以及配备能量色散X射线谱仪(EDS)或者电子能量损失谱仪(EELS)记录的元素面分布图测量壳层厚度。适用测量颗粒核的直径范围为10 nm~1 μm。
本文件不适用于水平投影图形Z方向大于X方向、Y方向的颗粒以及有复杂几何水平投影形状的颗粒,例如类似海胆状的纳米颗粒。
注:主要原因是当被测量壳层厚度波动大于最小截面直径20%时,本文件的不确定度将明显增大。
英文名称:  Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining shell thickness of particles with core-shell structure
标准状态:  即将实施
什么是中标分类? 中标分类:  >>>>G50;H30
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.50物理化学分析方
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2026-02-27
实施日期:  2026-09-01  即将实施 距离实施日期还有97
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位:  北京科技大学、国标(北京)检验认证有限公司、包头稀土研究院、北京化工大学
起草人:  权茂华、柳得橹、贾荣光、任旭东、洪崧、马通达
页数:  32页
出版社:  中国标准出版社
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