红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 |
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| 标准编号：GB/T 17444-1998 |
标准状态：已作废 |
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| 标准价格：31.0 元 |
客户评分：  |
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本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。 |
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| 英文名称： |
The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 17444-2013代替 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L52红外器件 |
| ICS分类： |
电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 发布部门： |
国家质量技术监督局 |
| 发布日期： |
1998-07-03 |
| 实施日期： |
1999-05-01
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| 作废日期： |
2014-04-15
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| 首发日期： |
1998-07-30 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
信息产业部（电子） |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
中国科学院上海技术物理研究所 |
| 页数： |
18页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-15431 |
| 出版日期： |
2004-04-15 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
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