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| 英文名称： |
Electromagnetic compatibility--Testing and measurement techniques--Surge immunity test |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 17626.5-2008代替 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L06电磁兼容 |
| ICS分类： |
电信、音频和视频技术>>33.100电磁兼容性(EMC) |
| 采标情况： |
idt IEC 61000-4-5：1995 |
| 发布部门： |
国家质量技术监督局 |
| 发布日期： |
1999-08-02 |
| 实施日期： |
2000-03-01
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| 作废日期： |
2009-01-01
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| 首发日期： |
1999-08-02 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国电磁兼容标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
电子工业部标准化研究所 |
| 页数： |
平装16开， 页数：28， 字数：52千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-16197 |
| 出版日期： |
2004-05-02 |
| 标准前页： |
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