电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 |
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| 标准编号：GB 5594.6-1985 |
标准状态：已作废 |
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| 标准价格：20.0 元 |
客户评分：  |
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本标准适用于电子器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍陶瓷材料的化学稳定性测定。 |
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| 英文名称： |
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for chemical durability |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 5594.6-2015代替 |
| 中标分类： |
>>>>L32 |
| ICS分类： |
31.030 |
| UDC分类： |
621.315.612;621.382/.387;620.1 |
| 发布部门： |
国家标准局 |
| 发布日期： |
1985-11-27 |
| 实施日期： |
1986-12-01
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| 作废日期： |
2016-01-01
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| 首发日期： |
1985-11-27 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 提出单位： |
中华人民共和国电子工业部 |
| 归口单位： |
信息产业部（电子） |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
上海无线电一厂 |
| 起草人： |
蔡郁辉 |
| 页数： |
2页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
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