GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法国家标准(GB)-工标网

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标准简介

本标准适用于各种微波二极管的参数测试。


英文名称：	Measuring methods for microwave diodes
标准状态：	已作废
中标分类：	电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二极管
ICS分类：	电子学>>半导体器件>>31.080.10二极管
UDC分类：	621.382.2.029.6;621.317.08
采标情况：	≈IEC 147-2-78
发布部门：	国家标准局
发布日期：	1986-07-22
实施日期：	1987-07-01
作废日期：	2005-10-14
首发日期：	1986-07-22
复审日期：	2004-10-14
归口单位：	全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：	信息产业部（电子）
起草单位：	电子部75所
页数：	75页
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半导体二极管相关标准	第1页第2页
GB 6588-1986 通用信号和(或)开关半导体二极管空白详细规范(可供认证用)
GB/T 6588-2000 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管第1篇信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
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GB/T 6589-2002 半导体器件分立器件第3-2部分: 信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范
GB 6802-1986 电子器件详细规范 2CL61、2CL62、2CL63、2CL64、2CL65、2CL66、2CL67、2CL68型玻璃钝化封装高压硅堆
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GB 9526-1988 电子器件详细规范 2CC22、2CC27型硅调谐变容二极管(可供认证用)
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二极管相关标准	第1页
GB/T 16894-1997 大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
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GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管
GB/T 6351-1998 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
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