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半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法

标准
标准编号：SJ 2214.6-1982 标准状态：已作废
标准价格：8.0 元 客户评分：星星星星1
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标准简介
英文名称：  Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor phototransistors
标准状态：  已作废
什么是替代情况？ 替代情况：  被SJ/T 2214-2015代替
什么是中标分类？ 中标分类：  通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
发布日期：  1982-11-30
实施日期：  1983-07-01
作废日期：  2015-10-01
页数：  1页
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