SJ 2354.13-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法电子行业标准(SJ)-工标网

高级查询

您的位置:工标网 >> 电子行业标准(SJ) >> SJ 2354.13-1983

标准简介


英文名称：	Method of measurement for multiplication factor of PIN and avalanche photodiodes
标准状态：	已作废
替代情况：	被SJ/T 2354-2015代替
中标分类：	能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理
ICS分类：	电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布日期：	1983-08-15
实施日期：	1984-07-01
作废日期：	2015-10-01
页数：	1页

技术管理相关标准	第1页第2页第3页第4页第5页更多>>
SJ 2354.2-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2354.3-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
SJ 2354.4-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
SJ 2354.5-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法
SJ 2354.6-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法
SJ 2354.7-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
SJ 2354.8-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2354.9-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
SJ 2355.1-1983 半导体发光器件测试方法总则
SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法正向压降的测试方法
免费下载技术管理标准相关目录

光电子学、激光设备相关标准	第1页第2页第3页
SJ 2354.14-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
SJ 2355.3-1983 半导体发光器件测试方法反向电流的测试方法
SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法结电容的测试方法
SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法
SJ 2355.6-1983 半导体发光器件测试方法光通量的测试方法
SJ 2355.7-1983 半导体发光器件测试方法发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
T/QGCML 2017-2023 防撞击手持式三维激光扫描仪
T/QGCML 2219-2023 TO56激光器技术规范
T/QGCML 2336-2023 车载激光雷达种子源技术规范
免费下载光电子学、激光设备标准相关目录

发表留言

客服中心

有问题？找在线客服

温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。

常见问题

您可能还需要

必备软件下载

Adobe Acrobat Reader 是一个查看、阅读和打印PDF文件的最佳工具，通过它可以查阅本站的标准文档

搜索更多

购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 客服热线:400-7255-888 (工作日8:30-18:00、节假日9:00-17:00)