钼的光谱分析方法 |
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| 标准编号：SJ 2657-1986 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：12.0 元 |
客户评分：  |
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本标准适用于电子器件、电光源用钼材（粉、坯、杆、丝、条、带）、三氧化钼（不加添加剂）、钼酸铵及钼酸中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、镁、铅、钒、锡、钛、锑、镉等元素的测定。 |
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| 英文名称： |
Mothod of molybdeuum spectral analysis |
 替代情况： |
SJ/Z 1320-1978 |
| 中标分类： |
综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理 |
| 采标情况： |
JIS H1401-79 ГОСТ 14315-74 NEQ |
| 发布部门： |
中华人民共和国电子工业部 |
| 发布日期： |
1986-01-21 |
| 实施日期： |
1986-10-01
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| 复审日期： |
2017-05-12 |
| 归口单位： |
电子工业部标准化研究所 |
| 起草单位： |
电子工业部741厂、774厂 |
| 起草人： |
李忠、王进学 |
| 页数： |
6页 |
| 出版社： |
电子工业出版社 |
| 出版日期： |
1986-09-01 |
| 标准前页： |
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