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 共找到80条相关标准,现行49,作废27,废止3,未实施1,耗时0.128秒
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 DB13/T 1314-2010  太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片 河北省质量技术监督局 2010-11-25 废止
 DB31/ 792-2014  硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 上海市质量技术监督局 2014-08-01 作废
 DB31/ 792-2020  硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 上海市市场监督管理局 2020-06-01 现行
 DB61/T 512-2011  太阳电池用单晶硅片检验规则 陕西省市场监督管理局 2011-05-01 现行
 DB63/T 990-2011  太阳能级多晶硅片质量要求 青海省质量技术监督局 废止
 GB/T 11073-1989  硅片径向电阻率变化的测量方法 国家技术监督局 1990-02-01 作废
 GB/T 11073-2007  硅片径向电阻率变化的测量方法 国家质量监督检验检疫. 2008-02-01 现行
 GB/T 13388-1992  硅片参考面结晶学取向X射线测量方法 国家技术监督局 1992-10-01 作废
 GB/T 13388-2009  硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 14140-2009  硅片直径测量方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 14140.1-1993  硅片直径测量方法 光学投影法 国家技术监督局 1993-10-01 作废
 GB/T 14140.2-1993  硅片直径测量方法 千分尺法 国家技术监督局 1993-10-01 作废
 GB/T 14143-1993  300?900 UM 硅片间隙氧含量红外吸收测量方法 国家技术监督局 1993-10-01 作废
 GB/T 15615-1995  硅片抗弯强度测试方法 国家技术监督局 1996-02-01 作废
 GB/T 19444-2004  硅片氧沉淀特性的测定-间隙氧含量减少法 国家质量监督检验检疫. 2004-07-01 现行
 GB/T 19922-2005  硅片局部平整度非接触式标准测试方法 国家质量监督检验检疫. 2006-04-01 现行
 GB/T 24577-2009  热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB/T 24578-2009  硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 作废
 GB/T 24578-2015  硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法 国家质量监督检验检疫. 2017-01-01 现行
 GB/T 26067-2010  硅片切口尺寸测试方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行
 GB/T 26068-2010  硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 作废
 GB/T 26068-2018  硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法 国家市场监督管理总局. 2019-11-01 现行
 GB/T 29055-2012  太阳电池用多晶硅片 国家质量监督检验检疫. 2013-10-01 作废
 GB/T 29055-2019  太阳能电池用多晶硅片 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
 GB/T 29055-2019E  太阳能电池用多晶硅片(英文版) 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
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