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共找到80条相关标准,现行49,作废27,废止3,未实施1,耗时0.128秒
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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
DB13/T 1314-2010
太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片
河北省质量技术监督局
2010-11-25
废止
DB31/ 792-2014
硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额
上海市质量技术监督局
2014-08-01
作废
DB31/ 792-2020
硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额
上海市市场监督管理局
2020-06-01
现行
DB61/T 512-2011
太阳电池用单晶硅片检验规则
陕西省市场监督管理局
2011-05-01
现行
DB63/T 990-2011
太阳能级多晶硅片质量要求
青海省质量技术监督局
废止
GB/T 11073-1989
硅片径向电阻率变化的测量方法
国家技术监督局
1990-02-01
作废
GB/T 11073-2007
硅片径向电阻率变化的测量方法
国家质量监督检验检疫.
2008-02-01
现行
GB/T 13388-1992
硅片参考面结晶学取向X射线测量方法
国家技术监督局
1992-10-01
作废
GB/T 13388-2009
硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
国家质量监督检验检疫.
2010-06-01
现行
GB/T 14140-2009
硅片直径测量方法
国家质量监督检验检疫.
2010-06-01
现行
GB/T 14140.1-1993
硅片直径测量方法 光学投影法
国家技术监督局
1993-10-01
作废
GB/T 14140.2-1993
硅片直径测量方法 千分尺法
国家技术监督局
1993-10-01
作废
GB/T 14143-1993
300?900 UM 硅片间隙氧含量红外吸收测量方法
国家技术监督局
1993-10-01
作废
GB/T 15615-1995
硅片抗弯强度测试方法
国家技术监督局
1996-02-01
作废
GB/T 19444-2004
硅片氧沉淀特性的测定-间隙氧含量减少法
国家质量监督检验检疫.
2004-07-01
现行
GB/T 19922-2005
硅片局部平整度非接触式标准测试方法
国家质量监督检验检疫.
2006-04-01
现行
GB/T 24577-2009
热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物
国家质量监督检验检疫.
2010-06-01
现行
GB/T 24578-2009
硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
国家质量监督检验检疫.
2010-06-01
作废
GB/T 24578-2015
硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
国家质量监督检验检疫.
2017-01-01
现行
GB/T 26067-2010
硅片切口尺寸测试方法
国家质量监督检验检疫.
2011-10-01
现行
GB/T 26068-2010
硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
国家质量监督检验检疫.
2011-10-01
作废
GB/T 26068-2018
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
国家市场监督管理总局.
2019-11-01
现行
GB/T 29055-2012
太阳电池用多晶硅片
国家质量监督检验检疫.
2013-10-01
作废
GB/T 29055-2019
太阳能电池用多晶硅片
国家市场监督管理总局.
2020-05-01
现行
GB/T 29055-2019E
太阳能电池用多晶硅片(英文版)
国家市场监督管理总局.
2020-05-01
现行
共有80条符合状态条件的标准,共4页
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即将实施
作废
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