| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB 10271-1988 |
电子器件详细规范 3DG162型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10272-1988 |
电子器件详细规范 3DG182型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10273-1988 |
电子器件详细规范 3DG140型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用) |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB 10279-1988 |
电子器件详细规范 3DG3130 型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用 |
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1989-08-01 |
作废 |
| GB/T 17007-1997 |
绝缘栅双极型晶体管测试方法 |
国家技术监督局
|
1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 17008-1997 |
绝缘栅双极型晶体管的词汇及文字符号 |
国家技术监督局
|
1998-08-01 |
作废 |
| GB 3438-1982 |
半导体集成电路双极型存储器系列和品种 |
国家标准局
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1983-10-01 |
作废 |
| GB 3444-1982 |
半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 4587-1984 |
双极型晶体管测试方法 |
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1985-05-01 |
作废 |
| GB/T 4587-1994 |
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 |
国家质量监督检验检疫.
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1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 4587-2023 |
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB 5820.1-1986 |
电子器件详细规范 3DG130A、3DG130B、3DG130C、3DG130D型环境额定高低频放大双极型晶体管(可供认证用) |
|
1986-09-01 |
作废 |
| GB 5820.2-1986 |
电子器件详细规范 3DG111B、3DG111C、3DG111E、3DG111F型环境额定高低频放大双极型晶体管(可供认证用) |
|
1986-09-01 |
作废 |
| GB 5820.3-1986 |
电子器件详细规范 3DG201C型环境额定高低频放大双极型晶体管(可供认证用) |
|
1986-09-01 |
作废 |
| GB 5821.1-1986 |
电子器件详细规范 3DK106A、3DK106B型开关用双极型晶体管(可供认证用) |
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1986-09-01 |
作废 |
| GB 5965-1986 |
半导体集成电路双极型门电路空白详细规范 |
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1986-09-01 |
作废 |
| GB/T 5965-2000 |
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列）空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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2000-07-01 |
现行 |
| GB 6217-1986 |
高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范(可供认证用) |
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1987-01-01 |
作废 |
| GB/T 6217-1998 |
半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB 6218-1986 |
开关用双极型晶体管空白详细规范(可供认证用) |
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1987-01-01 |
作废 |
| GB/T 6218-1996 |
开关用双极型晶体管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
| GB 6355-1986 |
电子器件详细规范 3CG21B、3CG21C型高低频放大环境额定的双极型晶体管(可供认证用) |
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1986-12-01 |
作废 |
| GB 6356-1986 |
电子器件详细规范 3CX201A、3CX201B、3CX201C型高低频放大环境额定的双极型晶体管 |
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1986-12-01 |
作废 |
| GB 6357-1986 |
电子器件详细规范 3Dx201A、3DX201B、3DX201C型高低频放大环境额定的双极型晶体管(可供认证用) |
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1986-12-01 |
作废 |
| GB 7147-1987 |
电子器件详细规范 3DG80型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用) |
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1987-09-01 |
作废 |