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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态  GB/T 1551-1995  硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法 国家技术监督局 1995-01-02 作废  GB/T 1552-1995  硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 国家技术监督局 1995-01-02 作废  GB/T 15713-1995  锗单晶片 国家技术监督局 1996-03-01 作废  GB/T 26072-2010  太阳能电池用锗单晶 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行  GB/T 26074-2010  锗单晶电阻率直流四探针测量方法 国家质量监督检验检疫. 2011-10-01 现行  GB/T 34481-2017  低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法 国家质量监督检验检疫. 2018-07-01 现行  GB 5238-1985  锗单晶 1986-07-01 作废  GB/T 5238-1995  锗单晶 国家技术监督局 1996-03-01 作废  GB/T 5238-2009  锗单晶和锗单晶片 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 作废  GB/T 5238-2009E  锗单晶和锗单晶片(英文版) General Ad. 2010-06-01 作废  GB/T 5238-2019  锗单晶和锗单晶片 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行  GB 5251-1985  锗单晶电阻率直流四探针测量方法 1986-07-01 作废  GB/T 5252-1985  锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 中国有色金属工业协. 1986-07-01 作废  GB/T 5252-2006  锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 国家质量监督检验检疫. 2006-11-01 作废  GB/T 5252-2020  锗单晶位错密度的测试方法 国家市场监督管理总局. 2021-04-01 现行  GB 5253-1985  锗单晶电阻率直流两探针测量方法 1986-07-01 作废  GB 5254-1985  锗单晶晶向X光衍射测定方法 1986-07-01 作废  GB 5255-1985  锗单晶晶向光反射图象测定方法 1986-07-01 作废  GB 5256-1985  锗单晶导电类型测量方法 1986-07-01 作废  GB 5257-1985  锗单晶少数载流子寿命直流光电导衰退测量方法 1986-07-01 作废  JB/T 12068-2014  TDR-Z直拉法锗单晶炉 工业和信息化部 2014-11-01 现行  SJ/T 10625-1995  锗单晶体中间隙氧含量的红外吸收测定方法 电子工业部 1995-10-01 现行  SJ/Z 2655-1986  锗单晶缺陷图集 1986-10-01 废止  YS/T 1182-2016  锗单晶安全生产规范 工业和信息化部 2017-01-01 现行  YS 783-2012  红外锗单晶单位产品能源消耗限额 工业和信息化部 2012-11-01 现行

共有25条符合状态条件的标准，共1页 现行 即将实施 作废 废止

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