| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ/T 10607-1994 |
半导体集成电路门阵列设计总则 |
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1995-04-01 |
废止 |
| SJ/T 10686-1995 |
安全电气隔离用光电耦合器要求和试验 |
电子工业部
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1996-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10692-1996 |
汽车用盒式磁带放音机运带机构总技术条件 |
电子工业部
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1996-11-01 |
现行 |
| SJ/T 10710-1996 |
非广播磁带录像机磁头型号命名方法 |
电子工业部
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1996-11-01 |
废止 |
| SJ/T 10718-1996 |
电子器件设计文件编制示例 |
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1996-11-01 |
废止 |
| SJ/T 10720-1996 |
电子产品安全性名词术语 |
电子工业部
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1996-11-01 |
废止 |
| SJ/T 10730-1997 |
ＶＣＤ视盘机通用规范 |
电子工业部
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1997-01-10 |
现行 |
| SJ/T 10734-1996 |
半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 |
国家机械工业局
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10735-1996 |
半导体集成电路 ＴＴＬ电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10736-1996 |
半导体集成电路 ＨＴＬ电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10737-1996 |
半导体集成电路 ＥＣＬ电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10738-1996 |
半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10739-1996 |
半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10740-1996 |
半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10741-1996 |
半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10746-1996 |
半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10783-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＤ７１７６ＣＰ伴音中频放大电路（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10784-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＤ７６０９ＣＰ行、场扫描电路（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10800-1996 |
半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10801-1996 |
半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10802-1996 |
半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10803-1996 |
半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10804-1996 |
半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10805-1996 |
半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10806-1996 |
半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10808-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０００型ＴＴＬ四２输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10809-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１００２型ＴＴＬ四２输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10810-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１００４型ＴＴＬ六反相器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10811-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１００８型ＴＴＬ四２输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10812-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０１０型ＴＴＬ三３输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10813-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０２０型ＴＴＬ双４输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10814-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０２７型ＴＴＬ三３输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10815-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０３０型ＴＴＬ８输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10816-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０４０型ＴＴＬ双４输入与非缓冲器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10817-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０５４型ＴＴＬ４路２－２－２－２输入与或非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10818-1996 |
半导体集成非线性电路数字／模拟转换器和模拟／数字转换器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10820-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００１型ＨＴＬ双４输入与非门 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10821-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００７型ＨＴＬ四反相器 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10822-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００８型ＨＴＬ双４输入与非门 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10823-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００９型ＨＴＬ三３输入与非门 |
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1997-01-01 |
废止 |