| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| JB/T 9493.2-1999 |
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硝酸铵氧化-硫酸亚铁铵滴定法测定锰量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9493.3-1999 |
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 丁二酮肟重量法测定镍量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9493.4-1999 |
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 磺基水杨酸光度法测定铁量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9493.5-1999 |
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9493.6-1999 |
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9493.7-1999 |
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 苯甲酸铵分离-EDTA滴定法测定铝量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9494-1999 |
聚酯漆包圆电阻线 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 9495.1-1999 |
光学晶体 |
仪表功能材料标委会
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 9495.2-1999 |
光学晶体折射率 测量方法 |
仪表功能材料标委会
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9495.3-1999 |
光学晶体透过率 测量方法 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9495.4-1999 |
光学晶体应力双折射 测量方法 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9495.5-1999 |
光学晶体散射颗粒度 测量方法 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9495.6-1999 |
光学晶体光吸收系数 测量方法 |
仪表功能材料标委会
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9495.7-1999 |
光学晶体光学均匀性 测量方法 |
仪表功能材料标委会
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9496-1999 |
钨铼热电偶用补偿导线 |
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 9497-1999 |
钨铼热电偶丝及分度表 |
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 9497-2002 |
钨铼热电偶丝及分度表 |
国家经济贸易委员会
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2002-12-01 |
废止 |
| JB/T 9498-1999 |
包覆绝缘圆电阻线 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 9499.1-1999 |
康铜电阻合金化学分析方法 电解重量法测定铜量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9499.2-1999 |
康铜电阻合金化学分析方法 碘化钾-硫代硫酸钠滴定法测定铜量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9499.3-1999 |
康铜电阻合金化学分析方法 过硫酸铵氧化-硫酸亚铁铵滴定法测定锰量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9499.4-1999 |
康铜电阻合金化学分析方法 高碘酸钾光度法测定锰量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9499.5-1999 |
康铜电阻合金化学分析方法 电解除铜-EDTA滴定法测定镍量 |
仪表功能材料标委会
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9499.6-1999 |
康铜电阻合金化学分析方法 磺基水杨酸光度法测定铁量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9499.7-1999 |
康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9500-1999 |
镍铬铁温度磁补偿合金带材 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 9501-1999 |
温度磁补偿合金直流磁性测量方法 |
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2000-01-01 |
作废 |
| JB/T 9501-2002 |
温度磁补偿合金直流磁性 测量 |
国家经济贸易委员会
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2002-12-01 |
现行 |
| JB/T 9502-1999 |
锰铜精密电阻合金 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
现行 |
| JB/T 9503-1999 |
仪表轴尖用钴基合金夹杂物的评定方法与等级 |
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2000-01-01 |
作废 |
| T/QGCML 2764-2023 |
电容式触控显示屏测试装置 |
全国城市工业品贸易中.
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2024-01-04 |
现行 |
| ZB N 05001.1-1986 |
光学晶体 |
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1989-07-01 |
作废 |
| ZB N 05001.2-1986 |
光学晶体折射率测量方法 |
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1991-07-01 |
作废 |
| ZB N 05001.3-1986 |
光学晶体透过率测量方法 |
|
1991-07-01 |
作废 |
| ZB N 05001.4-1986 |
光学晶体应力双折射测量方法 |
|
1991-07-01 |
作废 |
| ZB N 05001.5-1986 |
光学晶体散射颗粒度测量方法 |
|
1991-07-01 |
作废 |
| ZB N 05001.6-1986 |
光学晶体光吸收系数测量方法 |
|
1991-07-01 |
作废 |
| ZB N 05001.7-1986 |
光学晶体光学均匀性测量方法 |
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1991-07-01 |
作废 |
| ZB N 05002-1988 |
钨铼热电偶用补偿导线 |
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1991-07-01 |
作废 |
| ZB N 05003-1988 |
钨铼热电偶丝及分度表 |
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1991-07-01 |
作废 |