55 ICS国际标准分类[17计量学和测量、物理现象]-工标网
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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 JB/T 5465.4-1999  电度表用零部件 钕铁硼永磁制动组件 全国电工仪器仪表标委. 2000-01-01 废止
 JB/T 5467.1-2002  机电式交流有功和无功电能表 第1部分:通用要求 全国电工仪器仪表标准. 2003-04-01 废止
 JB/T 5467.2-2002  机电式交流有功和无功电能表 第2部分:长寿命电能表的特殊要求 全国电工仪器仪表标准. 2003-04-01 废止
 JB/T 5482-2004  X射线晶体定向仪 技术条件 国家发展和改革委员会 2004-11-01 作废
 JB/T 5482-2011  X射线晶体定向仪 工业和信息化部 2012-04-01 现行
 JB/T 5491-2005  膜片压力表 国家发展和改革委员会 2006-01-01 现行
 JB/T 5527-2005  船用压力表 国家发展和改革委员会 2006-01-01 现行
 JB/T 5528-2005  压力表标度及分划 国家发展和改革委员会 2006-02-01 现行
 JB/T 5534-2007  压力式温度控制器用锡青铜波纹管 国家发展和改革委员会 2007-11-01 现行
 JB/T 5537-2006  半导体压力传感器 国家发展和改革委员会 2007-07-01 现行
 JB/T 5538-1991  微控调节器 通用技术条件 机械工业部 1992-07-01 废止
 JB/T 5582-2014  工业铠装热电偶技术条件 工业和信息化部 2014-10-01 现行
 JB/T 5610-2006  激光干涉仪 国家发展和改革委员会 2007-04-01 现行
 JB/T 599-2005  压力表校验器 国家发展和改革委员会 2006-01-01 现行
 JB/T 6081-2007  深度指示表 国家发展和改革委员会 2007-11-01 现行
 JB/T 6169-2006  金属波纹管 国家发展和改革委员会 2007-07-01 现行
 JB/T 6170-2006  压力传感器 国家发展和改革委员会 2007-07-01 现行
 JB/T 6172-2005  压力传感器 系列型谱 国家发展和改革委员会 2005-11-01 现行
 JB/T 6181-2008  电磁计数器 国家发展和改革委员会 2008-07-01 现行
 JB/T 6252.6-1999  QDZ-Ⅲ系列气动单组合仪表 型谱系列 国家机械工业局 2000-01-01 废止
 JB/T 6788-2008  机械计数器系列型谱 国家发展和改革委员会 2008-07-01 现行
 JB/T 6802-2008  压力控制器 国家发展和改革委员会 2008-07-01 废止
 JB/T 6804-2006  抗震压力表 国家发展和改革委员会 2007-02-01 现行
 JB/T 6805-2008  压力表接点装置 技术条件 国家发展和改革委员会 2008-07-01 现行
 JB/T 6868-2008  冲击台 技术条件 国家发展和改革委员会 2008-09-01 现行
 JB/T 6869-2008  水平振动台(正弦) 技术条件 国家发展和改革委员会. 2008-09-01 现行
 JB/T 7392-2006  数字压力表 国家发展和改革委员会 2007-02-01 现行
 JB/T 7407-2008  包装件跌落试验机 技术条件 国家发展和改革委员会 2008-09-01 现行
 JB/T 7429-2006  电子塞规 国家发展和改革委员会 2007-04-01 现行
 JB/T 7482-2008  压电式压力传感器 国家发展和改革委员会 2008-07-01 现行
 JB/T 7483-2005  半导体电阻应变式力传感器 国家发展和改革委员会 2005-11-01 现行
 JB/T 7485-2007  金属膜片 国家发展和改革委员会 2007-11-01 现行
 JB/T 7486-2008  温度传感器系列型谱 国家发展和改革委员会 2008-07-01 现行
 JB/T 7487.1-2007  金属膜盒 第1部分:金属差压膜盒 国家发展和改革委员会 2007-11-01 现行
 JB/T 7487.2-2007  金属膜盒 第2部分:金属压力膜盒 国家发展和改革委员会 2007-11-01 现行
 JB/T 7490-2007  霍尔电流传感器 国家发展和改革委员会 2007-11-01 现行
 JB/T 7903-1999  工业射线照相底片观片灯 全国无损检测标准化技. 2000-01-01 废止
 JB/T 7914-1999  振动发生器辅助台 设备特性的描述方法 2000-01-01 现行
 JB/T 7976-2010  轮廓法测量表面粗糙度的仪器 术语 工业和信息化部 2010-07-01 现行
 JB/T 7980-2010  半径样板 工业和信息化部 2010-07-01 现行
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