| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 2423.102-2008 |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合 |
国家质量监督检验检疫.
|
2008-12-01 |
现行 |
| GB 2423.11-1982 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Fd:宽带随机振动试验方法 一般要求 |
|
1983-06-01 |
作废 |
| GB/T 2423.11-1997 |
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fd:宽频带随机振动--一般要求 |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
作废 |
| GB 2423.12-1982 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Fda:宽带随机振动试验方法-高再现性 |
|
1983-06-01 |
作废 |
| GB/T 2423.12-1997 |
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fda:宽频带随机振动--高再现性 |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
作废 |
| GB 2423.13-1982 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Fdb:宽带随机振动试验方法 中再现性 |
|
1983-06-01 |
作废 |
| GB/T 2423.13-1997 |
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fdb:宽频带随机振动--中再现性 |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
作废 |
| GB 2423.14-1982 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Fdc:宽带随机振动试验方法-低再现性 |
|
1983-06-01 |
作废 |
| GB/T 2423.14-1997 |
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fdc:宽频带随机振动--低再现性 |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
作废 |
| GB 2423.15-1981 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Ga:恒定加速度试验方法 |
|
1982-04-01 |
作废 |
| GB/T 2423.15-1995 |
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加速度 |
国家技术监督局
|
1996-08-01 |
作废 |
| GB/T 2423.15-2008 |
电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ga和导则: 稳态加速度 |
国家质量监督检验检疫.
|
2008-10-01 |
现行 |
| GB/T 2423.16-1990 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验J:长霉试验方法 |
|
1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 2423.16-1999 |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J和导则：长霉 |
国家质量技术监督局
|
2000-06-01 |
作废 |
| GB/T 2423.16-2008 |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉 |
国家质量监督检验检疫.
|
2009-10-01 |
作废 |
| GB 2423.17-1981 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Ka:盐雾试验方法 |
|
1982-04-01 |
作废 |
| GB/T 2423.17-1993 |
电工电子产品基本环境试验规程试验Ka:盐雾试验方法 |
国家技术监督局
|
1994-07-01 |
作废 |
| GB 2423.18-1985 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Kb:交变盐雾试验方法(氯化钠溶液) |
|
|
作废 |
| GB/T 2423.18-2000 |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验 试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液） |
国家质量监督检验检疫.
|
2000-08-01 |
作废 |
| GB 2423.19-1981 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验方法 |
中国电器工业协会
|
1982-04-01 |
作废 |
| GB/T 2423.19-2013 |
环境试验 第2部分：试验方法 试验Kc：接触点和连接件的二氧化硫试验 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-03-07 |
现行 |
| GB/T 2423.2-1989 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验B:高温试验方法 |
|
1990-01-01 |
作废 |
| GB/T 2423.2-2001 |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 |
国家质量监督检验检疫.
|
2002-06-01 |
作废 |
| GB 2423.20-1981 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法 |
中国电器工业协会
|
1982-04-01 |
作废 |
| GB/T 2423.20-2014 |
环境试验 第2部分：试验方法 试验Kd：接触点和连接件的硫化氢试验 |
国家质量监督检验检疫.
|
2015-04-01 |
现行 |
| GB 2423.21-1991 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验 M: 低气压试验方法 |
国家技术监督局
|
1992-02-01 |
作废 |
| GB/T 2423.21-2008 |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压 |
国家质量监督检验检疫.
|
2009-10-01 |
现行 |
| GB 2423.22-1987 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验N:温度变化试验方法 |
|
1988-05-01 |
作废 |
| GB 2423.23-1982 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Q:密封 |
|
1983-09-01 |
作废 |
| GB/T 2423.23-1995 |
电工电子产品环境试验 试验Q:密封 |
国家技术监督局
|
1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 2423.23-2013 |
环境试验 第2部分：试验方法 试验Q：密封 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-03-07 |
现行 |
| GB 2423.24-1981 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Sa:模拟地面上的太阳辐射试验方法 |
|
1982-04-01 |
作废 |
| GB/T 2423.24-1995 |
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa:模拟地面上的太阳辐射 |
国家技术监督局
|
1996-08-01 |
作废 |
| GB/T 2423.24-2013 |
环境试验 第2部分：试验方法 试验Sa：模拟地面上的太阳辐射及其试验导则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-03-07 |
作废 |
| GB/T 2423.25-1992 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 |
国家技术监督局
|
1993-03-01 |
作废 |
| GB/T 2423.25-2008 |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验 |
国家质量监督检验检疫.
|
2009-10-01 |
作废 |
| GB/T 2423.26-1992 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 |
国家技术监督局
|
1993-03-01 |
作废 |
| GB/T 2423.26-2008 |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BM：高温/低气压综合试验 |
中国电器工业协会
|
2009-10-01 |
作废 |
| GB/T 2423.27-1981 |
电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法 |
中国电器工业协会
|
1982-04-01 |
作废 |
| GB/T 2423.27-2005 |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验 |
国家质量监督检验检疫.
|
2006-04-01 |
作废 |