标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB 3420-1982 |
灰口铸铁管件 |
国家标准局
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1983-11-01 |
作废 |
GB/T 3420-2008 |
灰口铸铁管件 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-05-01 |
现行 |
GB/T 3421-1982 |
砂型离心铸铁管 |
国家标准局
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1983-01-01 |
作废 |
GB 3422-1982 |
连续铸铁管 |
国家标准局
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1983-11-01 |
作废 |
GB/T 3422-2008 |
连续铸铁管 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-05-01 |
现行 |
GB 3423-1982 |
金刚石岩芯钻探用无缝钢管 |
国家标准局
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1983-11-01 |
作废 |
GB 3424-1982 |
石墨阳极 |
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1983-11-01 |
作废 |
GB 3425-1982 |
炭糊类检测试样焙烧方法 |
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1983-11-01 |
作废 |
GB 3426-1982 |
起重机钢轨 |
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1983-11-01 |
作废 |
GB 3427-1982 |
钢钉检验 包装 标志 质量证明书及贮运的一般规定 |
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1983-11-01 |
作废 |
GB 3428-1982 |
钢芯铝绞线用镀锌钢丝 |
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1983-11-01 |
作废 |
GB/T 3428-1997 |
钢芯铝绞线用镀锌钢丝 |
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1998-05-01 |
作废 |
GB/T 3428-2002 |
架空绞线用镀锌钢线 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-04-01 |
作废 |
GB 3429-1982 |
碳素焊条钢盘条 |
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1983-11-01 |
作废 |
GB/T 3429-1994 |
焊接用钢盘条 |
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1995-01-01 |
作废 |
GB/T 3429-2002 |
焊接用钢盘条 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-06-01 |
作废 |
GB/T 3429-2015 |
焊接用钢盘条 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-11-01 |
现行 |
GB 343-1982 |
一般用途低碳钢丝 |
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1983-03-01 |
作废 |
GB/T 343-1994 |
一般用途低碳钢丝 |
中国钢铁工业协会
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1995-10-01 |
作废 |
GB 3430-1989 |
半导体集成电路型号命名方法 |
机械电子工业部
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1990-04-01 |
废止 |
GB 3431.1-1982 |
半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 |
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1983-10-01 |
作废 |
GB 3431.2-1986 |
半导体集成电路文字符号 引出端功能符号 |
国家标准局
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1987-04-01 |
现行 |
GB/T 3432.1-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74系列的品种 |
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1990-04-01 |
作废 |
GB/T 3432.2-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74H系列的品种 |
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1990-04-01 |
作废 |
GB/T 3432.3-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74S系列的品种 |
|
1990-04-01 |
作废 |
GB/T 3432.4-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种 |
信息产业部(电子)
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1990-04-01 |
作废 |
GB 3433-1982 |
半导体集成电路HTL电路系列和品种 |
国家标准局
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1983-10-01 |
作废 |
GB/T 3434-1986 |
半导体集成电路ECL电路系列和品种 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
GB/T 3435-1987 |
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种 |
国家标准局
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1987-08-01 |
作废 |
GB 3436-1986 |
半导体集成电路运算放大器系列和品种 |
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1987-08-01 |
作废 |
GB/T 3436-1996 |
半导体集成电路运算放大器系列和品种 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
GB 3437-1982 |
半导体集成电路MOS存储器系列和品种 |
国家标准局
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1983-10-01 |
作废 |
GB 3438-1982 |
半导体集成电路双极型存储器系列和品种 |
国家标准局
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1983-10-01 |
作废 |
GB 3439-1982 |
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作废 |
GB 344-1964 |
低碳结构钢丝 |
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1965-07-01 |
作废 |
GB 3440-1982 |
半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作废 |
GB 3441-1982 |
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作废 |
GB 3442-1986 |
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB 3443-1982 |
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作废 |
GB 3444-1982 |
半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作废 |