| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| JB/T 6236.2-1992 |
电工用树脂浸渍玻璃纤维无纬绑扎带 试验方法 |
机械电子工业部
|
1993-01-01 |
废止 |
| JB/T 6236.3-1992 |
电工用树脂浸渍玻璃纤维无纬绑扎带 技术条件 |
机械电子工业部
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.1-1992 |
电触头用银粉 化学分析方法 氯化银沉淀─对二甲替氨基亚苄基罗丹宁分光光度法测定银量 |
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.1-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第1部分：氯化银沉淀—对二甲替氨基亚苄基罗丹宁分光光度法测定银量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.10-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 银粉水溶液PH值测定 |
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.10-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第10部分：重量法测定氯化银含量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.11-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 联苯胺目视比色法测定硝酸盐含量 |
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.12-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 重量法测定氯化银含量 |
桂林电器所
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.2-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 双环已酮草酰二腙分光光度法测定铜量 |
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.2-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第2部分：双环己酮草酰二腙分光光度法测定铜量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.3-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 邻菲罗啉分光光度法测定铁量 |
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.3-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第3部分：邻菲罗啉分光光度法测定铁量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.4-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 2-(5-溴-2-吡啶偶氨)-5-二乙氨基苯酚分光光度法测定镍量 |
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.4-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第4部分：火焰原子吸收光谱法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.5-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定镍量 |
桂林电器所
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.5-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第5部分：火焰原子吸收光谱法测定钠量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.6-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定钠量 |
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.6-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第6部分：火焰原子吸收光谱法测定镁量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.7-1992 |
电触头用银粉化学分析方法─二甲苯胺兰Ⅱ分光光度法测定镁量 |
桂林电器所
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.7-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第7部分：重量法测定水分含量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.8-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定镁量 |
桂林电器所
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.8-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第8部分：银粉水溶液pH值测定 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 6237.9-1992 |
电触头用银粉化学分析方法 重量法测定水份含量 |
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6237.9-2008 |
电触头材料用银粉化学分析方法 第9部分：联苯胺目视比色法测定硝酸盐含量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
| JB 6238-1992 |
工业干衣机 安全要求 |
机械工业部
|
1993-01-01 |
废止 |
| JB/T 6239.1-1992 |
工业自动化仪表通用试验方法 共模、串模干扰影响 |
上海工业自动化仪表所
|
1993-04-01 |
作废 |
| JB/T 6239.1-2007 |
工业自动化仪表通用试验方法 第1部分：共模、串模抗扰度试验 |
国家发展和改革委员会
|
2008-03-01 |
废止 |
| JB/T 6239.2-1992 |
工业自动化仪表通用试验方法 电源电压频率变化影响 |
机械工业部
|
1993-04-01 |
作废 |
| JB/T 6239.2-2007 |
工业自动化仪表通用试验方法 第2部分：电源电压频率变化抗扰度试验 |
国家发展和改革委员会
|
2008-03-01 |
作废 |
| JB/T 6239.3-1992 |
工业自动化仪表通用试验方法 电源电压低降影响 |
上海工业自动化仪表所
|
1993-04-01 |
作废 |
| JB/T 6239.3-2007 |
工业自动化仪表通用试验方法 第3部分：电源电压低降抗扰度试验 |
国家发展和改革委员会
|
2008-03-01 |
废止 |
| JB/T 6239.4-1992 |
工业自动化仪表通用试验方法 电源短时中断影响 |
上海工业自动化仪表所
|
1993-04-01 |
作废 |
| JB/T 6239.4-2007 |
工业自动化仪表通用试验方法 第4部分：电源短时中断抗扰度试验 |
国家发展和改革委员会
|
2008-03-01 |
废止 |
| JB/T 6239.5-1992 |
工业自动化仪表通用试验方法 电源瞬时过压影响 |
上海工业自动化仪表所
|
1993-04-01 |
作废 |
| JB/T 6239.5-2007 |
工业自动化仪表通用试验方法 第5部分：电源快速瞬变单脉冲抗扰度试验 |
国家发展和改革委员会
|
2008-03-01 |
废止 |
| JB 624-1965 |
ZF、ZD系列中型直流电动机技术条件 |
|
1993-01-01 |
作废 |
| JB/T 6240-1992 |
二氧化硫分析器 技术条件 |
|
1993-04-01 |
作废 |
| JB/T 6241-1992 |
分析仪器 产品分类、命名及型号编制方法 |
机械电子工业部
|
1993-04-01 |
现行 |
| JB/T 6242-1992 |
荧光光度计 |
|
1993-04-01 |
作废 |
| JB/T 6242-2005 |
荧光光度计 |
国家发展和改革委员会
|
2005-11-01 |
现行 |