标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
JB/T 7775.1-2008 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第1部分:碘量法测定铜量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7775.2-1995 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7775.2-2008 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第2部分:气体容量法测定碳量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7775.3-1995 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7776.1-1995 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7776.1-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第1部分:EDTA络合滴定法测定镉量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.2-1995 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7776.2-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第2部分:火焰原子吸收光谱法测定锌量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.3-1995 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7776.3-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第3部分:火焰原子吸收光谱法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.4-1995 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7776.4-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第4部分:苯芴酮分光光度法测定锡量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.5-1995 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7776.5-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第5部分:硫脲分光光度法测定铋量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.6-1995 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7776.6-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第6部分:火焰原子吸收光谱法测定镁量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.7-1995 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7776.7-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第7部分:铬天青S分光光度法测定铝量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.8-1995 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7777.1-1995 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7777.1-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分:碘量法测定锡量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7777.2-1995 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学 |
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7777.2-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分:EDTA容量法测定铟量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7777.3-1995 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学 |
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7777.3-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第3部分:丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7777.4-1995 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7777.4-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第4部分:PAN分光光度法测定锌量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7777.5-1995 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7777.5-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第5部分:火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7778.1-1995 |
银碳化钨电触头材料化学分析方 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7778.1-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第1部分:硫氰酸盐容量法测定银量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7778.2-1995 |
银碳化钨电触头材料化学分析方 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7778.2-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第2部分:丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7778.3-1995 |
银碳化钨电触头材料化学分析方 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7778.3-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第3部分:气体容量法测定总碳量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7778.4-1995 |
银碳化钨电触头材料化学分析方 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7778.4-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第4部分:酸分离-气体容量法测定游离碳量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7779-1995 |
银碳化钨(12)石墨(3)电触头 技术条件 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |
JB/T 7779-2008 |
银碳化钨(12)石墨(3)电触头技术条件 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7780.1-1995 |
铆钉触头用线材机械物理性能试 |
机械工业部
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1996-01-01 |
作废 |