电子材料功函数的测试方法 |
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| 标准编号：SJ 3195-1989 |
标准状态：已废止 |
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| 标准价格：12.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了用扫描低能电子探针法测定电子材料的功函数。本标准使用于固态金属、合金以及电子发射材料。 |
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| 英文名称： |
Test methods for power function of electronic matericals |
| 标准状态： |
已废止 |
 替代情况： |
公告：中华人民共和国工业和信息化部公告 2024年第17号 |
| 中标分类： |
综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理 |
| 发布日期： |
1989-02-10 |
| 实施日期： |
1989-03-01
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| 作废日期： |
2024-07-11
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| 复审日期： |
2024-07-11 |
| 页数： |
6页 |
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