工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> 国家标准(GB) >> GB 1552-1979

硅单晶电阻率直流四探针测量方法

国家标准
标准编号:GB 1552-1979 标准状态:已作废
标准价格:8.0 客户评分:星星星星1
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务!
点击放入购物车 如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  GB/T 1552-1995代替
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
实施日期:  1980-01-01
页数:  4页
  [ 评论 ][ 关闭 ]

金属物理性能试验方法相关标准 第1页 第2页 第3页 第4页 第5页 更多>> 
 GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
 GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
 GB 1555-1979 硅单晶晶向光图测量方法
 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
 GB 1556-1979 硅单晶晶向X光衍射测量方法
 GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
 GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
 GB 1558-1983 测定硅晶体中代位碳含量的红外吸收方法
 GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法
 GB/T 16595-1996 晶片通用网格规范
 免费下载金属物理性能试验方法标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 4007255888 (市话)
客服QQ 1006926259 569872709
MSN或电子邮件 Csres@vip.126.com
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您可能还需要 更多
金属材料杨氏模量,切变模量及泊松比测..
掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算..
金属材料热膨胀特征参数的测定
非本征半导体材料导电类型测试方法..
致密烧结金属材料与硬质合金密度测定方..
金属高温导热系数测量方法
金属高温导热系数测量方法
烧结金属材料(不包括硬质合金) 可渗..
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法
baidu 中搜索:GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法
yahoo 中搜索:GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法
soso 中搜索:GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法
中搜索:GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款 -
QQ:1006926259 569872709 MSN/EMail: Csres@vip.126.com
Copyright © 工标网 2005-2009,All Right Reserved  国家标准发行授权书