金硅面垒型探测器 |
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| 标准编号：GB/T 13178-2008 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：29.0 元 |
客户评分：  |
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本标准参考了IEC 60333：1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。
本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。
本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器（简称探测器）的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。
本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器（不包括位置灵敏探测器）。锂漂移金硅面垒型探测器也
可参照执行。
本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容，对其的主要修改如下：
——增加前言；
——引用新的规范性文件；
——产品的外形及结构尺寸仅保留A型，删去原标准的B型和C型；
——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300μm一类，而主要性能增加“允许最大噪声”。 |
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| 英文名称： |
Partially depleted gold silicon surface barrier detectors |
 替代情况： |
替代GB/T 13178-1991 |
| 中标分类： |
能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F88核探测器 |
| ICS分类： |
能源和热传导工程>>27.120核能工程 |
| 采标情况： |
IEC 60333-1993,NEQ |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2008-07-02 |
| 实施日期： |
2009-04-01
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| 首发日期： |
1991-04-11 |
| 提出单位： |
中国核工业集团公司 |
| 归口单位： |
全国核仪器仪表标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
全国核仪器仪表标准化技术委员会 |
| 起草单位： |
中核（北京）核仪器厂 |
| 起草人： |
李志勇 |
| 计划单号： |
20061773-T-307 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066·1-33577 |
| 出版日期： |
2008-11-01 |
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本标准参考了IEC60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。
本标准代替GB/T13178-1991《金硅面垒型探测器》(以下简称原标准)。
本标准保留GB/T13178-1991的大部分内容,对其的主要修改如下:
---增加前言;
---引用新的规范性文件;
---产品的外形及结构尺寸仅保留A 型,删去原标准的B型和C 型;
---部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300μm 一类,而主要性能增加允许最大噪声。
本标准由中国核工业集团公司提出。
本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。
本标准起草单位:中核(北京)核仪器厂。
本标准主要起草人:李志勇。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:GB/T13178-1991。 |
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下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T5201 带电粒子半导体探测器测试方法(GB/T5201-1994,neqIEC60333:1993)
GB/T10257-2001 核仪器和核辐射探测器质量检验规则 |
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