数字可寻址照明接口 第202部分:控制装置的特殊要求 自容式应急照明 (设备类型1) |
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标准编号:GB/T 30104.202-2013 |
标准状态:现行 |
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标准价格:126.0 元 |
客户评分: |
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GB/T30104的本部分规定了与自容式应急照明相关的、使用交流/直流电源供电的电子控制装置的数字信号控制协议和测试程序。注:该标准中的试验均为型式试验,不包括生产过程中单个控制装置的试验要求。 |
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英文名称: |
Digital addressable lighting interface—Part 202:Particular requirements for control gear—Self-contained emergency lighting(device type 1) |
中标分类: |
电工>>电气照明>>K74灯具附件 |
ICS分类: |
29.140.50;29.140.99 |
采标情况: |
IEC 62386-202:2009 |
发布部门: |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2013-12-17 |
实施日期: |
2014-11-01
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提出单位: |
中国轻工业联合会 |
归口单位: |
全国照明电器标准化技术委员会(SAC/TC 224) |
主管部门: |
全国照明电器标准化技术委员会(SAC/TC 224) |
起草单位: |
广东产品质量监督检验研究院、广州广日电气设备有限公司、中山市古镇镇生产力促进中心、佛山市华全电气照明有限公司、浙江上光照明有限公司、北京电光源研究所 |
起草人: |
李自力、吴文斌、邓根成、区志杨、柯建锋、赵秀荣、江姗、段彦芳 |
页数: |
104页【胶订-大印张】 |
出版社: |
中国标准出版社 |
出版日期: |
2014-11-01 |
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GB/T30104《数字可寻址照明接口》分为13个部分:
———第101部分:一般要求 系统;
———第102部分:一般要求 控制装置;
———第103部分:一般要求 控制设备;
———第201部分:控制装置的特殊要求 荧光灯(设备类型0);
———第202部分:控制装置的特殊要求 自容式应急照明(设备类型1);
———第203部分:控制装置的特殊要求 放电灯(荧光灯除外)(设备类型2);
———第204部分:控制装置的特殊要求 低压卤钨灯(设备类型3);
———第205部分:控制装置的特殊要求 白炽灯电源电压控制器(设备类型4);
———第206部分:控制装置的特殊要求 数字信号转换成直流电压(设备类型5);
———第207部分:控制装置的特殊要求 LED模块(设备类型6);
———第208部分:控制装置的特殊要求 开关功能(设备类型7);
———第209部分:控制装置的特殊要求 颜色控制(设备类型8);
———第210部分:控制装置的特殊要求 程序装置(设备类型9)。
本部分为GB/T30104的第202部分。本部分按照GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IEC62386-202:2009《数字可寻址照明接口 第202部分:控制装置的特殊要求 自容式应急照明(设备类型1)》。本部分由中国轻工业联合会提出。本部分由全国照明电器标准化技术委员会(SAC/TC224)归口。本部分起草单位:广东产品质量监督检验研究院、广州广日电气设备有限公司、中山市古镇镇生产力促进中心、佛山市华全电气照明有限公司、浙江上光照明有限公司、北京电光源研究所。本部分主要起草人:李自力、吴文斌、邓根成、区志杨、柯建锋、赵秀荣、江姗、段彦芳。 |
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目 次
前言
引言
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 一般要求 2
5 电气规范 3
6 接口电源 3
7 传输协议结构 3
8 定时 3
9 操作方法 3
10 变量声明 6
11 指令定义 7
12 测试程序 16
附录A (资料性附录) 实例 91
参考文献 94
图1 各种光度等级定义示例 4
图2 操作模式 5
图3 应用扩展控制/配置指令序列举例 9
图4 特征测试流程 17
图5 重置测试流程 20
图6 100ms超时测试流程 22
图7 中间指令测试流程 24
图8 固定存储器测试流程 26
图9 开通和关断测试流程 29
图10 渐变关断测试流程 30
图11 物理地址分配测试流程 31
图12 查询灯上电测试流程 33
图13 休止测试流程 34
图14 抑制测试流程 36
图15 启动/停止功能测试测试流程 37
图16 功能测试故障测试流程 38
图17 功能测试请求待定测试流程 40
图18 启动/停止持续时间测试测试流程 41
图19 持续时间测试故障测试流程 42
图20 持续时间测试请求待定测试流程 44
图21 并行测试测试流程 46
图22 灯计时器测试流程 47
图23 停止待定测试测试流程 48
图24 在DTR存入应急等级测试流程 49
图25 应急等级vs.最小/最大测试流程 51
图26 存入测试定时测试流程 53
图27 执行自动测试测试流程 55
图28 存入测试执行超时测试流程 57
图29 存入延长时间测试流程 59
图30 启动鉴别测试流程 60
图31 接口故障测试流程 61
图32 查询电池充电测试流程 62
图33 查询布线型抑制测试流程 63
图34 查询布线型开关式电源测试流程 64
图35 查询物理选择测试流程 65
图36 休止:应用扩展指令序列测试流程 67
图37 抑制和测试:应用扩展指令序列测试流程 69
图38 重置功能完成标志:应用扩展指令序列测试流程 71
图39 重置持续时间测试完成标志:应用扩展指令序列测试流程 73
图40 配置:启用设备类型1后的其他指令测试流程 375
图41 配置:100ms间隔测试流程 77
图42 配置:中间指令测试流程 79
图43 查询:启用设备类型1后的其他指令测试流程 80
图44 启动鉴别:应用扩展指令流程测试流程 82
图45 扩展重置测试流程 84
图46 扩展固定存储器测试流程 86
图47 恢复出厂设置测试流程 88
图48 预留DTR选择功能值测试流程 89
图49 查询扩展版本号测试流程 90
图A.1 持续时间测试流程实例 91
图A.2 功能测试和持续时间测试定时程序 92
表1 附加变量声明 6
表2 扩展指令设置应用集一览表 15
表3 应急控制装置的类型 16
表4 配置指令测试流程列表 18
表5 重置测试流程的参数 19
表6 100ms超时测试流程的参数 21
表7 中间指令测试流程的参数 23
表8 固定存储器测试流程的参数 25
表9 电弧功率控制指令测试流程列表 27
表10 开通和关断测试流程的参数 28
表11 渐变关断测试流程的参数 29
表12 查询和预留指令测试流程列表 32
表13 抑制测试流程参数 35
表14 功能测试故障测试流程参数 38
表15 功能测试请求待定测试流程参数 39
表16 持续时间测试请求待定测试流程的参数 43
表17 并行测试测试流程参数 45
表18 在DTR存入应急等级测试流程参数 48
表19 应急等级.最小/最大测试流程参数 50
表20 存入测试定时测试流程参数 52
表21 执行自动测试测试流程参数 54
表22 存入测试执行超时测试流程参数 56
表23 存入延长时间测试流程参数 58
表24 休止:应用扩展指令序列测试流程参数 66
表25 抑制和测试:应用扩展指令序列测试流程参数 68
表26 重置功能完成标志:应用扩展指令序列测试流程参数 70
表27 重置持续时间测试完成标志:应用扩展指令序列测试流程参数 72
表28 配置:启用设备类型1后的其他指令测试流程参数 74
表29 配置:100ms间隔测试流程参数 76
表30 配置:中间指令测试流程参数 78
表31 查询:启用设备类型1后的其他指令测试流程参数 80
表32 启动鉴别:应用扩展指令序列测试流程参数 81
表33 扩展重置测试流程参数 83
表34 扩展固定存储器测试流程参数 85
表35 恢复出厂设置测试流程参数 87 |
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