工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 |
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| 标准编号：GB/T 14849.5-2014 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：29.0 元 |
客户评分：  |
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GB/T14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。表 1
元素 质量分数/% 元素 质量分数/%
铁 0.020~1.500 铜 0.001~0.050
铝 0.050~1.000 磷 0.001~0.050
钙 0.010~1.000 镁 0.001~0.050
锰 0.0050~0.1000 铬 0.001~0.050
镍 0.0010~0.1000 钒 0.0005~0.0500
钛 0.0050~0.1000 钴 0.0005~0.0500 |
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| 英文名称： |
Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 5:Determination of impurity contents—X-ray fluorescence method |
 替代情况： |
替代GB/T 14849.5-2010 |
| 中标分类： |
冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法 |
| ICS分类： |
冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2014-12-05 |
| 实施日期： |
2015-05-01
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| 归口单位： |
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243) |
| 起草单位： |
昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司 |
| 起草人： |
刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅、张爱玲、胡智弢、张晓平、刘汉士、刘维理、马启坤、唐飞、白万里、王宏磊、常智杰、聂恒声、金波、王云舟 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2015-05-01 |
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GB/T14849《工业硅化学分析方法》分为9个部分:
———第1部分:铁含量的测定 1,10-二氮杂菲分光光度法;
———第2部分:铝含量的测定 铬天青-S分光光度法;
———第3部分:钙含量的测定 火焰原子吸收光谱法、偶氮氯膦Ⅰ分光光度法;
———第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱;
———第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法;
———第6部分:碳含量的测定 红外吸收法;
———第7部分:磷含量的测定 钼蓝分光光度法;
———第8部分:铜含量的测定 PADAP分光光度法;
———第9部分:钛含量的测定 二安替比林甲烷分光光度法。
本部分为 GB/T14849的第5部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T14849.5—2010《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》。
本部分与 GB/T14849.5—2010相比,主要有如下变动:
———增加了规范性引用文件;
———增加了锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴的检测;
———样品应破碎通过0.074mm 筛,改为应能通过0.149mm 标准筛;
———将粘结剂硼酸改为淀粉或硼酸;
———将试料中压片压力20kN,保压时间20s,改为30t压力下保压30s;
———补充了重复性限及再现性限,增加了试验报告。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。
本部分负责起草单位:昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司。
本部分参加起草单位:中国铝业股份有限公司郑州研究院、通标标准技术服务有限公司、包头铝业有限公司、蓝星硅材料有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、云南出入境检验检疫局。
本部分主要起草人:刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅、张爱玲、胡智弢、张晓平、刘汉士、刘维理、马启坤、唐飞、白万里、王宏磊、常智杰、聂恒声、金波、王云舟。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T14849.5—2010。 |
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