电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 |
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| 标准编号：GB/T 5594.3-2015 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：24.0 元 |
客户评分：  |
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GB/T5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。
本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试。 |
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| 英文名称： |
Test methods for properties of structure ceramicused in electronic components and device—Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion |
 替代情况： |
替代GB/T 5594.3-1985 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料 |
| ICS分类： |
31-030 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2015-05-15 |
| 实施日期： |
2016-01-01
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
中国电子技术标准化研究院 |
| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂 |
| 起草人： |
高陇桥、黄国立、胡菊飞 |
| 页数： |
8页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2016-01-01 |
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GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》的结构如下:
———气密性测试方法(GB/T5594.1);
———杨氏弹性模量 泊松比测试方法(GB/T5594.2);
———第3部分:平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3);
———第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4);
———体积电阻率测试方法(GB/T5594.5);
———第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T5594.6);
———第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7);
———第8部分:显微结构测定方法(GB/T5594.8);
———电击穿强度测试方法(GB/T5594.9)。
本部分为 GB/T5594的第3部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T5594.3—1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法》。
本部分与 GB/T5594.3—1985相比,主要有下列变化:
———标准名称改为:“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法”;
———4.1测试样品改为?3.5×50mm;
———4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃变化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷;
———4.4测量范围从室温至800 ℃变化为室温至1200 ℃;
———4.5线膨胀系数单位改为 K-1。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂。
本部分主要起草人:高陇桥、黄国立、胡菊飞。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T5594.3—1985。 |
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GB/T5593—2015 电子元器件结构陶瓷材料
GB/T9530—1988 电子陶瓷名词术语 |
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