石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 |
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| 标准编号：SJ/T 11212-1999 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：17.0 元 |
客户评分：  |
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本规范适用于石英晶体件激励电平相关性（DLD）的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z9154.1-87的π型网络为基础，适宜 和于该标覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。 |
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| 英文名称： |
Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件 |
| 采标情况： |
IEC 444-6-1995 IDT |
| 发布部门： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： |
1999-08-26 |
| 实施日期： |
1999-12-01
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| 提出单位： |
电子工业部标准化研究所 |
| 归口单位： |
电子工业部标准化研究所 |
| 起草单位： |
电子工业部标准化研究所 |
| 起草人： |
章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林 |
| 页数： |
16页 |
| 出版日期： |
1999-12-01 |
| 标准前页： |
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